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想要高效完成I-V特性测试,快来看看这个测试方案吧

时间:2021-09-28 点击次数:119

在各种应用的电流相对于电压关系 (IV) 测量中,吉时利2400图形化系列SMU仪器可以提供高效智能的解决方案。



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图:由吉时利2400系列源表组成的I-V 测试系统


吉时利2400图形化系列SMU仪器把源功能和测量功能紧密整合到一台仪器中,提供四象限精密电压和电流源/负载,实用性强。


吉时利2400图形化系列SMU仪器采用用户熟悉的图形界面,操作简便。比如基于图标的菜单结构,不管用户经验是否丰富,使用起来都非常简便。


应用举例


01

功率半导体的 I-V 检定

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图:使用2450源表测试得出的I-V曲线


在碳化硅(SiC)和 氮化镓(GaN)半导体设备开发的各阶段, I-V 检定起着重要的作用。首先,测试材料以确定适用性。再者,金氧半场效晶体管(MOSFET)等设备一经制造,必须在进行击穿电压、泄漏电流和断开状态电阻测试后才可将其安装到电路板上。

覆盖范围广,最高可达 1100V / 1A DC 20W

10 fA 测量分辨率

SCPI 和 TSP® 脚本编程模式

与 KickStart 软件结合使用


02

光电池 I-V 检定

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图:光电池测试


Keithley 2450型或2460型SourceMeter SMU仪器,能在提供电流和电压的同时进行测量, 可以轻松生成太阳能电池和电池板的I-V检定。

0.012% 基本测量精度,具有 6½ 位分辨率

全新 20mV 和 10nA 源/测量范围提高了灵敏度

覆盖范围广,最高可达 105V,7A DC/7A 脉冲,100W



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